
透射电镜(TEM)样品离子减薄系统
可以实现薄膜样品面内、截面以及其他块体材料的透射电镜样品的精准制备,离子枪束能量:0.1keV至8keV可调,液氮冷台保护
State Key Laboratory of Magnetism
Advanced microscopy, fabrication and magnetic characterization facilities

可以实现薄膜样品面内、截面以及其他块体材料的透射电镜样品的精准制备,离子枪束能量:0.1keV至8keV可调,液氮冷台保护

可以实现透射电镜样品的精准制备,特殊构型和需求器件的设计和加工。并配备EDS能谱分析仪。

• 特别设计的物镜可使样品处磁场低于10 Oe
• 面内±600 Oe磁场范围内磁结构的原位观察
• 室温至100K原位磁结构和显微结构变化
• 电场或电流下磁结构和显微结构的原位观察

• 纵向及横向克尔成像,分辨率最低可达450nm
• 可实现面内(1T)、垂直磁场(0.5T)协同测试
• 配置垂直脉冲磁场,反应速度达30mT/us
• 4套电流测试探针,可外接多功能电流测试系统


超高真空三室磁控溅射系统
• 直入平面沉积八靶室
• 斜入聚焦沉积/离轴式侧向沉积三靶室
• 快速进样室,高、低温生长,本底真空度2 x 10-6 Pa
制造商:沈阳科友真空技术有限公司(2017年)
• 高真空八靶磁控溅射仪(直入平面沉积,室温生长,本底真空度4 x 10-5 Pa)
制造商:沈阳市超高真空应用技术研究所(1999年)
• 高真空四靶磁控溅射仪(直入平面沉积,室温生长,本底真空度4 x 10-5 Pa)制造商:中国科学院沈阳科学仪器股份有限公司(1993年)

可进行真空度10-5Pa级的退火,温度可达600℃,可选择在约1.2 T任意角度磁场下的退火

• 美国 ADE 技术有限公司引进 Model 4 HF - VSM 振动样品磁强计
• 磁场: 2.1 Tesla,磁场分辨率0.01 Oe;高低温工作区间: 100-1000 K 和高灵敏度 2 x 10-6 emu
• 可用于纳米磁性薄膜的 M(T, H) 曲线等磁性测量工作

• 通过四探针法测量薄膜在外磁场下的磁电阻、反常霍尔效应
• 垂直温度梯度下测量薄膜纵向自旋塞贝克效应